VME2510B
WYCOFANY PRZEZ PRODUCENTA
PŁYTKI I/O CYFROWE Z WBUDOWANYM TESTEM
8/16/32-BIT TRANSFERÓW
LOGIKA WBUDOWANEGO TESTU DO WYKRYWANIA I IZOLACJI USTERKI
DIODA AWARII
WYDAJNOŚĆ ŹRÓDŁA 64 MA
Skontaktuj się z nami
Skontaktuj się z nami w sprawie cen hurtowych, wsparcia technicznego, wycen napraw oraz szczegółowych zdjęć lub filmów produktów.
VME2510B
WYCOFANY PRZEZ PRODUCENTA
PŁYTKI I/O CYFROWE Z WBUDOWANYM TESTEM
8/16/32-BIT TRANSFERÓW
LOGIKA WBUDOWANEGO TESTU DO WYKRYWANIA I IZOLACJI USTERKI
DIODA AWARII
WYDAJNOŚĆ ŹRÓDŁA 64 MA